Resumen de Un Método para Analizar Datos de Pruebas Educacionales Estandarizadas usando Almacén de Datos y Triangulación
Carolina Zambrano, Darío F Rojas, Pedro Salcedo Lagos
- español
Resumen: Este trabajo, tiene como objetivo proponer un método para analizar datos de pruebas educacionales estandarizadas usando Almacén de Datos (AD) y triangulación. Para lograr este objetivo se generó un esquema conceptual de AD que sirve de modelo para analizar los resultados históricos de pruebas estandarizadas. Se utiliza como caso de estudio la prueba PISA realizada por la Organización para la Cooperación y el Desarrollo Económico, OECD. Además, el resultado del análisis es relacionado por medio de la triangulación con las políticas públicas en el área educación en Chile. Desde un punto de vista educacional, los análisis presentados muestran como resultado el beneficio del análisis multidimensional y la triangulación que sirven para realizar un seguimiento histórico de los resultados obtenidos por diversos países en la prueba PISA. Todo lo anterior se logra estableciendo un método que permite replicar el proceso y aplicarlo en distintas pruebas educacionales estandarizadas.
- English
Abstract: This work proposes a method to analyze data from standardized educational tests using Data Warehouse (DW) and triangulation. To achieve this objective, a conceptual framework of DW was generated which serves as a model to analyze the historical results of standardized tests. The PISA test carried out by the OECD is used as a case study. In addition, the result of the analysis is related through the triangulation with public policies in education in Chile. From an educational point of view, the proposed analyzes show as a result the benefit of the multidimensional analysis and the triangulation that serve to carry out a historical follow-up of the results obtained by various countries in the PISA test. All the above is achieved by establishing a method that allows replicating the process and apply it in different standardized educational tests.
