Digital image processing applied to the study of surface roughness by STM

• Autores: M. Aguilar Gutiérrez, Eloy Anguiano Rey, F. Vázquez Carracedo, Fernando Gómez Martín, M. Pancorbo Castro
• Localización: Metromática/91: V Congreso Internacional de Metrología Industrial, 13-15 noviembre 1991 Zaragoza (España) / coord. por Fernando Torres Leza, 1991, págs. 477-486
• Idioma: español
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