La metrología en las fuerzas armadas: patrón de F.E.M. basado en el efecto Josephson

• Autores: M. López, L. Lorenzo, P. Pintó, A. Camón, F. Lera, C. Rillo, R. Navarro
• Localización: Metromática/91: V Congreso Internacional de Metrología Industrial, 13-15 noviembre 1991 Zaragoza (España) / coord. por Fernando Torres Leza, 1991, págs. 183-190
• Idioma: español
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